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Electrically Reconfigurable Dual Metal-Gate Planar Field-Effect Transistor for Dopant-free CMOS

机译:电可重构双金属栅平面场效应   用于无掺杂CmOs的晶体管

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摘要

In this paper, we demonstrate by simulation the feasibility ofelectrostatically doped and therefore reconfigurable planarfield-effect-transistor (FET) structure which is based on our alreadyfabricated and published Si-nanowire (SiNW) devices. The technologicalcornerstones for this dual-gated general purpose FET contain Schottky S/Djunctions on a silicon-on-insulator (SOI) substrate. The transistor type, i.e.n-type or p-type FET, is electrically selectable on the fly by applying anappropriate control-gate voltage which significantly increases the versatilityand flexibility in the design of digital integrated circuits.
机译:在本文中,我们通过仿真演示了基于我们已经制造和发布的Si-Nanowire(SiNW)器件的静电掺杂并因此可重构的平面场效应晶体管(FET)结构的可行性。这种双栅极通用FET的技术基石在绝缘体上硅(SOI)衬底上包含肖特基S / D结。通过施加适当的控制栅极电压可以动态地电选择晶体管类型(即n型或p型FET),这显着提高了数字集成电路设计的多功能性和灵活性。

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